檢驗(yàn)科醫(yī)用顯微鏡的成像效果易受環(huán)境因素干擾，以下從環(huán)境控制標(biāo)準(zhǔn)、防干擾技術(shù)方案及具體措施三個方面，為您詳細(xì)介紹如何減少這些影響。

環(huán)境控制標(biāo)準(zhǔn)

溫濕度：當(dāng)檢驗(yàn)檢測工作對環(huán)境溫度和濕度無特殊要求時，工作環(huán)境的溫度宜維持在16℃~26℃，相對濕度宜維持在30%~65%；若檢驗(yàn)檢測工作對環(huán)境溫度和濕度有特殊要求，則需符合相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

地面振動：10Hz頻率下振幅應(yīng)在2μm（峰 - 峰）以下，手放在平臺上不應(yīng)感受到振動。

其他環(huán)境條件：實(shí)驗(yàn)室的噪音、防潮、防塵、防腐蝕、防磁與屏蔽等方面的環(huán)境條件應(yīng)符合在室內(nèi)開展的檢定項(xiàng)目之檢定規(guī)程和計量標(biāo)準(zhǔn)器具及計量檢測儀器設(shè)備對環(huán)境的要求，室內(nèi)采光應(yīng)利于檢定工作和計量檢測工作的進(jìn)行。

防干擾技術(shù)方案

光學(xué)隔離技術(shù)：光學(xué)顯微鏡通過照明系統(tǒng)和成像系統(tǒng)的協(xié)同工作來實(shí)現(xiàn)對小結(jié)構(gòu)樣品的觀察。照明系統(tǒng)使用人造光源，如燈泡、發(fā)光二極管（LED）或激光器，經(jīng)聚光透鏡收集并整形、過濾后聚焦到樣品上；成像系統(tǒng)通過物鏡和目鏡收集與樣品相互作用的光，產(chǎn)生放大圖像?？赏ㄟ^選擇合適的光學(xué)過濾器修改照明光的光譜和偏振，突出樣品特征。

電磁屏蔽技術(shù)：對于電子顯微鏡等高精密儀器，要考慮磁場干擾。一般電子顯微鏡對周圍磁場的要求是不大于數(shù)十到數(shù)百納特斯拉（峰 - 峰值）?？刹捎么牌帘?，使用導(dǎo)磁材料（如低碳鋼、硅鋼等）提供磁旁路來降低屏蔽體內(nèi)部的磁通密度，同時盡量增大渦流損耗，使一部分能量轉(zhuǎn)化為熱能消耗掉；也可采用主動式消磁器，通過探測器檢測磁場的三維場強(qiáng)及其變化，控制器產(chǎn)生連續(xù)跟蹤的反相電流，反相消磁線圈產(chǎn)生波形和幅度相同、相位相反的電磁場將原來的電磁干擾抵消。

自動對焦補(bǔ)償技術(shù)：自動對焦顯微鏡利用圖像對比度或相位補(bǔ)償技術(shù)實(shí)時檢測并調(diào)整焦距，以獲得清晰的圖像。圖像對比度法通過實(shí)時分析樣本圖像中的對比度來確定焦距，使用特定算法計算圖像中不同部分之間的亮度差異，并調(diào)整鏡片位置使對比度Z佳；相位補(bǔ)償法利用光學(xué)插入物或改變光路引入與樣品相關(guān)的相位差，用物理或計算方法評估相位差大小，從而確定焦距，通過與預(yù)設(shè)的參考相位比較，自動調(diào)整焦距直至Z佳焦點(diǎn)。

具體措施

環(huán)境監(jiān)測與記錄：由專業(yè)人員負(fù)責(zé)室內(nèi)溫、濕度的記錄，有空調(diào)和除濕設(shè)備的室內(nèi)不應(yīng)隨便開啟門窗，指定專人負(fù)責(zé)操作空調(diào)設(shè)備或除濕機(jī)，室內(nèi)溫、濕度情況記錄由各計量、實(shí)驗(yàn)室保存，保存期三年。

設(shè)備安裝與調(diào)試：在安裝顯微鏡前，對場地進(jìn)行專門檢測，若周圍環(huán)境不符合要求，采取適當(dāng)措施解決或改善。如對于電子顯微鏡，廠商一般會在安裝前對場地進(jìn)行檢測。

日常維護(hù)與管理：實(shí)驗(yàn)室應(yīng)保持整齊潔凈，每天工作結(jié)束后進(jìn)行必要清理，定期擦拭儀器設(shè)備，設(shè)備使用完后將器具及其附件擺放整齊，蓋上儀器罩或防塵布，一切用電的儀器設(shè)備使用完畢后均應(yīng)切斷電源。實(shí)驗(yàn)室內(nèi)嚴(yán)禁吸煙、吃零食和存放食物等，非實(shí)驗(yàn)室人員未經(jīng)允許不得入內(nèi)，經(jīng)同意進(jìn)入的人員在人數(shù)上應(yīng)嚴(yán)格控制，以免引起室內(nèi)溫度、濕度的波動變化。